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无线电实验室柳州-外校单位
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-03-19 11:13:52
无线电实验室柳州-外校单位无线电实验室外校单位
无线电实验室外校单位我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
在现代社会,判断找对人的方法肯定是很多,比如说通过星座,血型,抑或是看看身高,年龄,工作地点,未来规划,或者直接试一试性格能不能在一起。那么对中的方法其实也一样,至少就有一下三种:直尺、百分表法、激光对中三种方法。直尺法更像是我们找另一半的时候匹配星座和血型。为什么这样讲呢?因为,这种星座血型是两个固定的数据,匹配起来非常简单,也非常迅速;而直尺法也是这样,在效率上非常高。但是毋庸置疑,这种匹配星座和血型的方法,真的不一定准……同样,直尺法在对中的性也相对较低。
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3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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同时,还需要解决相关的测试效率选优算法和评价体系等问题。系统建模问题并行测试系统具有复杂的网状特征,系统建模除了要描述包含哪些UUT、哪些测试任务、测试任务和仪器之间的耦合关系等之外,更重要的是要描述清楚并行测试任务之间的控制相关性和时序相关性。信号链路动态建立问题再好的车也得跑在平坦舒适的路上方能彰显其性能的卓越和不凡。并行测试不但要“路”,而且需要“多车道路”,更需要根据车型“个性化道路”。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
无线电实验室柳州-外校单位不过正规测量泄漏电流施加的是交流电压,因而,在泄漏电流的成分中包含了容性分量的电流。在进行耐压测试时,为了保护试验设备和按规定的技术指标测试,也需要确定一个在不破坏被测设备(绝缘材料)的电场强度下允许流经被测设备(绝缘材料)电流值,这个电流通常也称为泄漏电流,但这个要领只是在上述特定场使下使用。请注意区别。泄漏电流实际上就是电气线路或设备在没有故障和施加电压的作用下,流经绝缘部分的电流。它是衡量电器绝缘性好坏的重要标志之一,是产品安全性能的主要指标。
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