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计量器具外校南充-第三方公司
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-04-17 01:02:42
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计量器具外校第三方公司我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
在现代轧钢生产线中,为提高钢板组织性能,一般在精轧后采用快速冷却技术(ACC),热轧钢材轧后控制冷却能改善钢材组织,提高钢材性能,缩短热轧钢材的冷却时间,扫描式测温仪就是在ACC设备上方,能够实现即时温度测量,识别差异的动态冷、热点追踪,用于监测钢板冷却后温度的均匀性及板型轮廓。同时将测量参数反馈给ACC的二级系统,用于控制系统的自学习调整,得到更好的钢板性能和板型控制。扫描式测温仪的设备组成扫描式测温仪主要包括三个大的部分:测温探头、器LPU和WCA软件。
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3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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与激光测径仪比较,不需要光学扫描机构。除软件本身具备测量数据的存储及分析功能以外,软件还外部数据库,方便使用方根据自身的需求进行测量数据的、整理、分析、计算、统计等。软件具备对棒材的错辊、耳子、头部缺陷长度、尾部缺陷长度的检测能力,为实际生产强有力的质量支撑。不使用工厂内的压缩空气和洁净气源,独特的冷却、防尘结构保障了测径仪内的清洁,将镜头的维护周期提高到3天以上。四路测径仪应用于外径尺寸的在线检测当中,实现高质量的测量,测量范围可根据需求,LPBJ15.12型测径仪可应用于各种轧钢现场使用,圆钢、合金钢、碳素钢等各种钢材的在线检测,对线棒管材均可进行在线测量及离线抽检。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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PA的IEC谐波ZLG致远电子的PA系列功率分析仪全系支持IEC谐波测试功能,PA功率分析仪将原始采样点进行DFT,将信号成不同频率的谐波进行分析,根据IEC61000-4-7的规范计算出相应结果并显示数据,包括谐波/间谐波子组、功率谱、谐波/间谐波指标。同时PA系列功率分析仪可以选 示与对比,如下图所示,用户可以自己选择A/B/C/D类别设备,选择50Hz/60Hz频率,选择对应标准和类别之后,PA功率分析仪会自动显示出谐波列表和对应类别的限制。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
计量器具外校南充-第三方公司先测试出可控硅的峰值电压,将电线正负极连接至K两极,接地线接至室内主接地上,逐渐升压,测试其漏电流数值。进行漏电测试后,逐渐升压,观测漏电流,当数值超过其额定峰值电压后,可控硅被击穿,但采用此方法可能会破坏其PN结,并且只能测试其是否导通,而不能测试其导通是否良好,故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量,参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅,改变摇表操作方法,即要对摇表电压和转速进行控制,两笔端链接K极对其进行测试。
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