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工程类实验室安庆-校验价格
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-05 23:25:00
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
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在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
示波器观察波形有三种视图模式,分别是YT模式、滚动模式、XY模式,虽然多数情况使用YT模式即可,但滚动模式和XY模式如何使用呢?各个模式有什么样的优缺点?示波器可通过各种各样的视图模式来观察波形,有YT模式、滚动模式、XY模式,YT模式又可以进一步细分为普通、单/双ZOOM显示模式、插值模式,观察信号时,应选择哪一种模式才 合适,不同的模式之间又有什么关联?带您详细深入探讨,各个模式显示的方式,优点与缺点,帮您快速准确地找到合适的模式来观察信号。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
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相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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了解你的被测试装置被测试装置(DUT)的性能会显著影响射频测量。,温度会影响稳定性,并因此与可重复性密切相关。许多射频器件和射频仪器没有对温度变化的内部补偿。它们必须在稳定的温度下工作以使温度漂移引起的测量误差。当前的环境(,空调循环的启与关闭,覆盖物和面板的移除或增加,处于户外或室内,以及是否接近热源)会有很大影响。需要注意适当的预热时间、被测试装置的冷却需求和周边的环境以确保温度稳定性。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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涂镀层测厚仪的测量方法的测量方法主要分为以下几种:磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高;涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低;超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵\测量精度也不高;电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。
涂镀层测厚仪的测量方法的测量方法主要分为以下几种:磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高;涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低;超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵\测量精度也不高;电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
工程类实验室安庆-校验价格针式 和接地引线了垂直顺性,确保了有效接触,而不产生不适当的机械压力。除了在 处之处,IC 是绝缘的,旨在防止相邻的IC引脚意外短路。弯曲 非常适合在相邻元器件下方进行探测,适用于探头必须与板保持平行的应用。方针适配器传送信号和接地引线,采用标准的2.mm引脚间距。接地引线包括窄型和宽型接地片。接地片具有低电感接地连接的优点。它们通常与铜垫配合使用。铜垫背侧具有粘性,粘贴到IC上。
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