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测试仪表校正雅安-校准机构
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-19 02:58:40
测试仪表校正雅安-校准机构测试仪表校正雅安-校准机构
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
在CAN应用中,有时会出现我们料想不到的问题,此时,为了准确的排查问题,我们需要通过测量CAN总线网络阻抗来确定是否满足CAN规范。本文将阐述测量CAN总线网络阻抗的原理以及具体方法。什么是阻抗?阻抗是指电路中的电子器件对通过它的特定频率的交流电流的阻碍作用。在数学上用矢量平面上的复数表示,即Z=R+jX,如所示,Z表示阻抗,实部R称为电阻,虚部X称为电抗。而电抗为容抗和感抗的总称,电容在电路中对交流电所起的阻碍作用称为容抗,电感在电路中对交流电所起的阻碍作用称为感抗。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
在CAN应用中,有时会出现我们料想不到的问题,此时,为了准确的排查问题,我们需要通过测量CAN总线网络阻抗来确定是否满足CAN规范。本文将阐述测量CAN总线网络阻抗的原理以及具体方法。什么是阻抗?阻抗是指电路中的电子器件对通过它的特定频率的交流电流的阻碍作用。在数学上用矢量平面上的复数表示,即Z=R+jX,如所示,Z表示阻抗,实部R称为电阻,虚部X称为电抗。而电抗为容抗和感抗的总称,电容在电路中对交流电所起的阻碍作用称为容抗,电感在电路中对交流电所起的阻碍作用称为感抗。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
测试仪表校正雅安-校准机构
CAN总线应用环境复杂多样,可能会出现各种异常情况。本文列举了常见的CAN接口异常情况及解决方法,帮您更加地分析及解决CAN接口应用问题。常见异常及解决方法1.两个节点近距离测试,低波特率通信正常,高波特率无法通信。可能原因:未加终端电阻。由于CAN收发芯片内部CANCANL引脚为漏驱动,如,在显性状态期间,总线的寄生电容会被充电,而在恢复到隐性状态时,这些电容需要放电。如果CANCANL之间没有放置任何阻性负载,电容只能通过收发器内部阻值较大的差分电阻放电。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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CAN总线应用环境复杂多样,可能会出现各种异常情况。本文列举了常见的CAN接口异常情况及解决方法,帮您更加地分析及解决CAN接口应用问题。常见异常及解决方法1.两个节点近距离测试,低波特率通信正常,高波特率无法通信。可能原因:未加终端电阻。由于CAN收发芯片内部CANCANL引脚为漏驱动,如,在显性状态期间,总线的寄生电容会被充电,而在恢复到隐性状态时,这些电容需要放电。如果CANCANL之间没有放置任何阻性负载,电容只能通过收发器内部阻值较大的差分电阻放电。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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实践表明,诸如FLIRX6900sc的高性能的热像仪比FLIRE40的经济型热像仪的精度效果要好,我们仍需要些工作来更好地解释这一观察结果。实验室测量值和±1?C或1%精度我们发现在观察已知发射率和温度的物体时,热像仪实际产生的温度测量值。此类物体一般指代为“黑体”。在引用已知发射率和温度的物体的理论概念前,你可能听说过这个术语。黑体的这一概念也用来指代一些实验室设备。.位于美国佛罗里达州尼斯维尔的FLIR温度记录校准实验室。
实践表明,诸如FLIRX6900sc的高性能的热像仪比FLIRE40的经济型热像仪的精度效果要好,我们仍需要些工作来更好地解释这一观察结果。实验室测量值和±1?C或1%精度我们发现在观察已知发射率和温度的物体时,热像仪实际产生的温度测量值。此类物体一般指代为“黑体”。在引用已知发射率和温度的物体的理论概念前,你可能听说过这个术语。黑体的这一概念也用来指代一些实验室设备。.位于美国佛罗里达州尼斯维尔的FLIR温度记录校准实验室。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
测试仪表校正雅安-校准机构电磁干扰对于检测系统来说,也是 为普遍并且也是影响 为严重的干扰。电磁干扰也是我们在测试时的注意点。经常发现的干扰就包括:静电耦合形成干扰、电磁耦合形成干扰、辐射电磁场耦合形成干扰等等。我们一般解决干扰会从三个方向着手:解决干扰源举个例子,在电源测试时,我们会发现被测系统里有很多继电器、接触器和断路器的电触点,上下电时的这些电触点的火花是很强的干扰源。如果我们此时正在测试电触点附近的电路则很容易发现测试值有些波动异常。
测试仪表校正雅安-校准机构电磁干扰对于检测系统来说,也是 为普遍并且也是影响 为严重的干扰。电磁干扰也是我们在测试时的注意点。经常发现的干扰就包括:静电耦合形成干扰、电磁耦合形成干扰、辐射电磁场耦合形成干扰等等。我们一般解决干扰会从三个方向着手:解决干扰源举个例子,在电源测试时,我们会发现被测系统里有很多继电器、接触器和断路器的电触点,上下电时的这些电触点的火花是很强的干扰源。如果我们此时正在测试电触点附近的电路则很容易发现测试值有些波动异常。
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