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计量器具校准上海-费用多少
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-19 12:35:18
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
如果套管内部存在缺陷,也可能导致套管异常发热。在这种情况下,发生故障套管的整体温度一般较其他正常的两相高(如下图红外热像仪应用在套管上)。如果套管内部或外部接头存在接触 ,或接点被氧化腐蚀,也可能导致套管接触点温度异常。在这种情况下,发生故障套管接触点就会表现出触点的温度明显高于其他正常的点或线路或套管。变压器套管热缺陷的红外热 1电流致热型设备的判断:套管将帽与外部接线板或内部导电杆接触 是电流致热故障,判断依据如下:套管内部存在缺陷的情况比较复杂:有可能是电压致热故障所引起的,也有可能是套管机械损伤造成的。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
如果套管内部存在缺陷,也可能导致套管异常发热。在这种情况下,发生故障套管的整体温度一般较其他正常的两相高(如下图红外热像仪应用在套管上)。如果套管内部或外部接头存在接触 ,或接点被氧化腐蚀,也可能导致套管接触点温度异常。在这种情况下,发生故障套管接触点就会表现出触点的温度明显高于其他正常的点或线路或套管。变压器套管热缺陷的红外热 1电流致热型设备的判断:套管将帽与外部接线板或内部导电杆接触 是电流致热故障,判断依据如下:套管内部存在缺陷的情况比较复杂:有可能是电压致热故障所引起的,也有可能是套管机械损伤造成的。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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实践表明,诸如FLIRX6900sc的高性能的热像仪比FLIRE40的经济型热像仪的精度效果要好,我们仍需要些工作来更好地解释这一观察结果。实验室测量值和±1?C或1%精度我们发现在观察已知发射率和温度的物体时,热像仪实际产生的温度测量值。此类物体一般指代为“黑体”。在引用已知发射率和温度的物体的理论概念前,你可能听说过这个术语。黑体的这一概念也用来指代一些实验室设备。.位于美国佛罗里达州尼斯维尔的FLIR温度记录校准实验室。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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实践表明,诸如FLIRX6900sc的高性能的热像仪比FLIRE40的经济型热像仪的精度效果要好,我们仍需要些工作来更好地解释这一观察结果。实验室测量值和±1?C或1%精度我们发现在观察已知发射率和温度的物体时,热像仪实际产生的温度测量值。此类物体一般指代为“黑体”。在引用已知发射率和温度的物体的理论概念前,你可能听说过这个术语。黑体的这一概念也用来指代一些实验室设备。.位于美国佛罗里达州尼斯维尔的FLIR温度记录校准实验室。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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在必须将工件从投影比较仪再送到其它仪器(如测量系统或万工显)上作进一步检测的情况下,就可以充分体现出组合测量方式的潜在价值。用户或许可以用投影比较仪的低倍放大镜完成大部分测量工作,但OV2系统却能完成用投影比较仪难以完成的检测任务。QC300触摸显示屏的应用可使投影比较仪用途更广泛、读数更,它能显示X-Y读数和测量数据,同时内置的卡可支持摄像机的实时图像。此外,它还具有CNC系统普遍具有的边缘检测功能,即可通过扫描在显示器十字瞄准线周围圆形区内的图像,对工件的边缘点进行自动检测和定标,从而可消除操作者用十字线肉眼瞄准工件边缘造成的主观人为误差。
在必须将工件从投影比较仪再送到其它仪器(如测量系统或万工显)上作进一步检测的情况下,就可以充分体现出组合测量方式的潜在价值。用户或许可以用投影比较仪的低倍放大镜完成大部分测量工作,但OV2系统却能完成用投影比较仪难以完成的检测任务。QC300触摸显示屏的应用可使投影比较仪用途更广泛、读数更,它能显示X-Y读数和测量数据,同时内置的卡可支持摄像机的实时图像。此外,它还具有CNC系统普遍具有的边缘检测功能,即可通过扫描在显示器十字瞄准线周围圆形区内的图像,对工件的边缘点进行自动检测和定标,从而可消除操作者用十字线肉眼瞄准工件边缘造成的主观人为误差。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
计量器具校准-费用多少基于频偏功能进行混频器/变频器一致性测量,其特点包括:快速且有效的校准;复杂变频组件的相位一致性测量;多通道下多组数据一次性显示等特点。以下是以3672系列矢量网络分析仪为发出的,基于频偏功能的混频器/变频器一致性测量方案,对被测件无附加要求,可适用于各类混频器/变频器的一致性测试。测量连接示意图如下所示。连接示意图通过一次测量,即可得到测量混频器相对于校准混频器的一致性参数。每条轨迹都支持幅度、相位、群时延、史密斯圆图、极坐标等多种格式的显示。
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