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测试设备校验南通-验厂
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-19 06:11:06
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
频域分析必须与时域、数字信号或逻辑通道保持严密的同步。频谱分析对调试工作的价值通常取决于分析速度(更新速度),因此信号的捕捉和发现极富挑战性。此外,仪器还必须具备足够高的频域和时域灵敏度,以便能够捕捉到信号,如因电磁干扰或其它干扰所产生的频域杂散信号等微小信号。为了获得可以用来调试支持多种信号类型的复杂系统的有价值信息,必须基于时间事件、频率事件或数字码型实现触发。快速傅立叶变换任何信号都是关于时间和幅值的函数。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
频域分析必须与时域、数字信号或逻辑通道保持严密的同步。频谱分析对调试工作的价值通常取决于分析速度(更新速度),因此信号的捕捉和发现极富挑战性。此外,仪器还必须具备足够高的频域和时域灵敏度,以便能够捕捉到信号,如因电磁干扰或其它干扰所产生的频域杂散信号等微小信号。为了获得可以用来调试支持多种信号类型的复杂系统的有价值信息,必须基于时间事件、频率事件或数字码型实现触发。快速傅立叶变换任何信号都是关于时间和幅值的函数。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
测试设备校验南通-验厂
汽车电子生产企业通常使用两者中的一种来进行产品测试。不论使用哪一种测试波形,艾德克斯IT65系列直流电源已经将两者都内置在仪器中,工程师直接调取使用即可,无需手动编程。从示波器中可以观察到IT65系列直流电源内置的汽车引擎启动电 9标准完全吻合。:IT6 5-2标准的引擎启动测试波形电压跌落测试汽车电子电器都是并联在一个汽车电路中的,而每一个电子设备都有一个单独的电路来控制,如所示。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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汽车电子生产企业通常使用两者中的一种来进行产品测试。不论使用哪一种测试波形,艾德克斯IT65系列直流电源已经将两者都内置在仪器中,工程师直接调取使用即可,无需手动编程。从示波器中可以观察到IT65系列直流电源内置的汽车引擎启动电 9标准完全吻合。:IT6 5-2标准的引擎启动测试波形电压跌落测试汽车电子电器都是并联在一个汽车电路中的,而每一个电子设备都有一个单独的电路来控制,如所示。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
测试设备校验南通-验厂
可控硅检测方案分析电控系统长时间运行后,电发动机会出现跳闸等故障。基于此,对可控硅性能好坏进行检测,对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表,另外,还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中,仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比,以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法(耐压试验)采用大电流发生器(简称升流器)对可控硅K两极之间进行漏电试验。
可控硅检测方案分析电控系统长时间运行后,电发动机会出现跳闸等故障。基于此,对可控硅性能好坏进行检测,对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表,另外,还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中,仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比,以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法(耐压试验)采用大电流发生器(简称升流器)对可控硅K两极之间进行漏电试验。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
测试设备校验南通-验厂 PerformanceTest即特定场景(SISO/MIMO)下的吞吐量测试5G的到来,为OTA测试带来了新挑战5G时代,系统频段更高,此外基站MassiveMIMO技术的应用,使得传统的传导复杂程度大大提高,除了手机,基站端也不得不进行OTA测试。5GOTA测试面临着一系列的新挑战5GOTA测量需支持两个频段:FR1—6GHz以下频段以及FR2—毫米波频段。基站端引入的MassiveMIMO技术要求其至少支持8X8阵列天线,阵列波束的直接远场测试对暗室尺寸要求很大。
测试设备校验南通-验厂 PerformanceTest即特定场景(SISO/MIMO)下的吞吐量测试5G的到来,为OTA测试带来了新挑战5G时代,系统频段更高,此外基站MassiveMIMO技术的应用,使得传统的传导复杂程度大大提高,除了手机,基站端也不得不进行OTA测试。5GOTA测试面临着一系列的新挑战5GOTA测量需支持两个频段:FR1—6GHz以下频段以及FR2—毫米波频段。基站端引入的MassiveMIMO技术要求其至少支持8X8阵列天线,阵列波束的直接远场测试对暗室尺寸要求很大。
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