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仪器外校周口-报价多少
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-09 12:32:13
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时序和布局约束是实现设计要求的关键因素。本文是介绍其使用方法的入门读物。完成RTL设计只是FPGA设计量产准备工作中的一部分。接下来的挑战是确保设计满足芯片内的时序和性能要求。为此,您经常需要定义时序和布局约束。我们了解一下在基于赛灵思FPGA和SoC设计系统时如何创建和使用这两种约束。时序约束 基本的时序约束定义了系统时钟的工作频率。然而,更 的约束能建立时钟路径之间的关系。
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3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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当基准杯内充满后会溢出流向溢流室。溢流室连接汽包的下降管,溢流室的凝结水就会进入下降管内流出,不会使得溢流室内满水。在蒸汽形成凝结水时,温度不会相差较大,使得基准杯到溢流室的温度保持一致,也就和汽包的温度能够达到一致。倒T字形连通器,其水平部分一端接入汽包,另一端接入变送器的正压侧。毋庸置疑,它的主要作用是将汽包中动态的水位产生的压力传递给变送器的正压侧,与负压侧的压力比较由电流信号换算成汽包中的水位。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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结合近场探头组,该示波器使设计者不仅能够快速EMI骚扰来源,还能够分析EMI问题。高动态范围和500uV/div的高输入灵敏度确保了即使是微弱的辐射也能对其进行分析。RSRTE具有实时频谱分析的快速傅立叶变换(FFT)全硬件的实现方式使其具有极快的频谱更新速率,并且FFT帧重叠算法和色温显示方式使其能够洞察干扰辐射的每一个细节。这些都能帮助设计者快速的检测干扰辐射源。罗德与施瓦茨公司便携的RSHZ-15以及经济型的HZ-17近场探头组,它们对嵌入式设计的EMI诊断极具帮助。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
仪器外校周口-报价多少了解了隔离与非隔离DUT设备区别后,我们通过以下图片了解CANDT系统中隔离与非隔离的接线区别以及其对测试的影响。隔离供电电路连接图非隔离供电电路连接图软件设置供电类型隔离与非隔离对测试的影响,四种测试情况:被测件隔离供电,选用隔离供电测试;DUT接入隔离供电端口,系统设置中被测设备设置为隔离供电,测试可正确进行;被测件非隔离供电,选用非隔离供电测试;DUT接入非隔离供电端口,系统设置中供电类型选择非隔离供电,测试可正确进行;被测件隔离供电,选用非隔离供电测试;DUT接入隔离供电端口,系统设置中供电类型选择非隔离供电,此时无法形成供电回路,DUT无法正常工作。
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