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测试设备校验孝感-审厂
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-09 13:49:44
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测试设备校验孝感-审厂 测试设备校验校准过程中,校准点数通常取6~11,校准循环次数通常取3~5,具体大小取决于被校传感器的精度和使用要求。
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2、校准实验系统设计
仪器校准实验系统由高低温真空试验装置和上位机人机软件组成,其中使用压力薄膜规和镍铬热电偶分别作为压力、温度参量基准,使用解调模块读出被校传感器的输出,系统结构如图2所示。
从以上测试结果可以看出,电压优先模式下,保证电压的输出波形质量,电流有可能会过冲;而在电流优先模式下,不管启动电流是毫安还是安培级,IT6100B都能很好地管理过冲,保证电流的输出波形质量。艾德克斯IT6100B系列(86~1200W)为高速高精度的可编程直流电源,满载上升 可达500us,分辨率可达0.1mV/0.01mA,输出波形优先模式可让电压或电流的上升波形高速且无过冲,在航天电源模块等高精度测试领域广泛应用。
(1) 高低温真空实验装置
高低温真空实验装置是为了模拟传感器实际测量环境而专门设计的,可以实现压力、温度的复合加载,由腔体、压力控制系统、温度控制系统和水冷循环系统等部分组成。
1) 腔体结构
腔体是高低温试验装置的核心部分,通过隔板分为载荷室和环境室两个腔室。载荷室模拟传感器前端接触到的外界环境,如高温、近真空、微小压力,即壳体外表面环境;环境室模拟传感器后端的工作环境,也就是壳体内部的环境。腔室结构示意图如图3所示。
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且可重复的测量现有式振动探头(参见)在实现方法上具备一些优势,包括不需要对终端设备任何修改,而且其集成度相对较高,尺寸较大,可充足的能力和存储空间。然而,它的一个主要局限是测量结果不可重复。探头位置或角度稍有改变,就会产生不一致的振动剖面,从而难以进行的时间比较。维护技术人员首先需要弄清所观察到的振动偏移是由机器内部的实际变化所致,还是仅仅因为测量技术的变化所致。理想情况下,传感器应当结构紧凑并且充分集成,能够直接 性地嵌入目标设备内部,从而消除测量位置偏移问题,并且可以完全灵活地安排测量时间。
且可重复的测量现有式振动探头(参见)在实现方法上具备一些优势,包括不需要对终端设备任何修改,而且其集成度相对较高,尺寸较大,可充足的能力和存储空间。然而,它的一个主要局限是测量结果不可重复。探头位置或角度稍有改变,就会产生不一致的振动剖面,从而难以进行的时间比较。维护技术人员首先需要弄清所观察到的振动偏移是由机器内部的实际变化所致,还是仅仅因为测量技术的变化所致。理想情况下,传感器应当结构紧凑并且充分集成,能够直接 性地嵌入目标设备内部,从而消除测量位置偏移问题,并且可以完全灵活地安排测量时间。
为了实现对载荷室温度、压力的复合加载,在载荷室的四周放置镍铬加热板加热,并带有热屏蔽板,使用两根镍铬热电偶测量载荷室环境温度,作为参考温度基准。在室温~375 00℃的范围内,其测量精度为0.4%。通过压力控制系统调节载荷室内环境压力,使用MKS公司626系列压力薄膜规作为参考压力基准,其压力测量范围0.2~266 Pa,测量精度0.12%。
2) 压力控制系统
压力控制系统能够将载荷室和环境室抽至高真空状态,此外还可以调节载荷室内环境压力。它由机械泵、分子泵、限流阀、压控仪、气体流量计等部件组成。其中限流阀、压控仪用于腔室内压力的控制,气体流量计用于调节补气流量大小。
系统控制逻辑如图4所示。压控仪接收参数设置信号,与薄膜规测量信号进行比较,根据比较结果调节限流阀度的大小,经过不断地调节控制*终达到动态平衡,使得载荷室内气压等于设定压力值。此外,可以根据设定压力的大小调节补气阀度大小,例如若要达到一个较大的压力值,则可以适当增大补气流量,使得载荷室内气压更快地上升到设定压力。
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但大家也留意到了,我们的电话机却不用接电源就可以使用,这是因为电话线本身是带电的,足以支持话机的功率需要,甚至再接分机也无大碍。既然电话机可以通过一条双绞就可以在完成语音传输的同时供电。那为什么不直接通过以太网中的双绞线来给网络设备供电呢?其实这个技术早已出现,这就是大家经常看到的PoE技术,英文全称是:PoweroverEthernet。中文是以太网供电技术。IEEE标准认证编号为802.3af。
但大家也留意到了,我们的电话机却不用接电源就可以使用,这是因为电话线本身是带电的,足以支持话机的功率需要,甚至再接分机也无大碍。既然电话机可以通过一条双绞就可以在完成语音传输的同时供电。那为什么不直接通过以太网中的双绞线来给网络设备供电呢?其实这个技术早已出现,这就是大家经常看到的PoE技术,英文全称是:PoweroverEthernet。中文是以太网供电技术。IEEE标准认证编号为802.3af。
3) 温度控制系统
系统采用镍铬加热板加热,通过调节加热电流的大小达到控温的目的。加热电源采用PID控制系统,可以使载荷室从室温快速加温到800℃,并且温度可调、控温。
4) 水冷循环系统
系统配有水冷循环系统用于系统整体的冷却,其中载荷室配置TC WS制冷循环水机,控温范围为10~27℃,给腔室、分子泵等稳定的制冷循环水,保证设备稳定运行。
(2) 上位机人机软件
为了方便高温微压力传感器的仪器校准试验,我们使用FameView组态软件编写了上位机人机软件。该软件主要用于实时监控载荷室和环境室的测试图IT6500C/D模拟量接口其中6脚可输出同步信号,当电源输出On时,该引脚输出高电平;当电源输出Off时,该引脚输出为低电平;可用于其他设备On/Off同步控制,驱动能力为5V/5mA。电源上升时间的测试电源上升时间与机时间的区别,上升时间(RiseTime):电压从没有上升至稳定的这段时间(一般量测输出电压的上下限为10%~90%或5%~95%),如上图所示,Va为输出电压的10%,Vb为输出电压的90%,Va,Vb之间的时间即为机电压上升时间。压力、温度状况,此外还具有数据存储功能。软件通过RS232协议与PLC进行通信,经由PLC控制高低温真空试验装置各个组件,实现了通过计算机远程控制的目的。
图5为该软件载荷室压力监控界面,当压力设定增大时,由于需要补气故响应速度较慢,相比之下,压力设定减小时响应迅速。
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根据上图显示,固晶层缺陷会造成的热阻增大,影响散热性能,具体的影响程度与缺陷的大小有关。测量结壳热阻:这两次测试的分别:次测量,器件直接接触到基板热沉上;第二次测量,器件和基板热沉中间夹着导热双面胶。由于两次散热路径的改变仅仅发生在器件封装壳之外,因此结构函数上两次测量的分界处就代表了器件的壳。如下图所示的曲线变化,可得出器件的热阻。结构无损检测:同批次产品,取固晶层完好、边缘缺陷以及中间缺陷的样品测试。
根据上图显示,固晶层缺陷会造成的热阻增大,影响散热性能,具体的影响程度与缺陷的大小有关。测量结壳热阻:这两次测试的分别:次测量,器件直接接触到基板热沉上;第二次测量,器件和基板热沉中间夹着导热双面胶。由于两次散热路径的改变仅仅发生在器件封装壳之外,因此结构函数上两次测量的分界处就代表了器件的壳。如下图所示的曲线变化,可得出器件的热阻。结构无损检测:同批次产品,取固晶层完好、边缘缺陷以及中间缺陷的样品测试。
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