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测试设备外校上海-校验价格
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-19 15:37:07
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也因为理想的元器件与现实情况的差异,导致我们在测量时就得特别注意,也必须特别考虑测量方法和选择测试条件。再来是电感器的频率响应特性。个是关于普通电感,由于来自线缆电阻和寄生电容的影响,也会使得实际的阻抗值和理想值间有所偏差,特别是在高频的时候。另外,高磁芯损耗的电感则是由于寄生电容和磁芯损耗的影响,同样会产生与理论值间的偏差。 是关于电容器频率响应的特性,是因为等效串联电阻的影响,使得实际测量结果与理论值有所偏差。
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3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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另外一种常见于ARM芯片,我们知道ARM芯片采用统一的编程接口SWD接口,某些ARM芯片会两个AP(AccessPort),通过关闭访问内部空间的AP可以达到加密的目的。而如果想解锁,就要访问另一条AP,这条AP只可以访问一个寄存器,通过写入该寄存器特定的数据就可以将芯片重置为默认状态。还有一种加密方式和上面类似,只不过采用了两个编程接口,而不是同一编程接口的两条AP。总之, 加密就是让你无法读取芯片数据,而又可以通过擦除再次升级固件。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性 高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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数字子系统架构从以往的设计来讲,数字子系统的引脚电子设备依赖于设计—离散设计,混合设备和完全设计。然而,今天有商业商为半导体和板级测试应用生产一系列针式电子产品,高水平的集成和通道密度。这些器件是实现更高通道密度的关键因素,同时也带来了管理功耗和功耗的持续挑战。今天的数字子系统多基于放式架构,卡模块化,如VXI和PXI标准,PXI是主导。为了适应与支持M-A应用相关的许多必要特性和功能,PXI的6U外形在标准PXI电源之外了额外的PCB空间和灵活性,可以使用额外的电源。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
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