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仪器外校西安-检测公司
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-10 03:42:36
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仪器外校检测公司我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
目前市场上电机测试系统的电机负载种类繁多,电涡流制动器负载、磁粉制动器负载、磁滞制动器负载、伺服电机负载等。考虑到被测电机的特性及成本,选择一款合适的负载至关重要,那么如何才能选择一款合适的电测试的负载呢?首先我们来了解各类型的负载制动器的特性及工作原理:电涡流制动器电涡流制动器是目前国内先进的模拟加载设备,主要用来模拟各种动力装置的输出性能,由感应盘、电枢和励磁部分等组成。当与转子同轴装配的励磁线圈通直流电时,其产生的磁通经电枢体、涡流环、气隙和转子形成闭合回路。
目前市场上电机测试系统的电机负载种类繁多,电涡流制动器负载、磁粉制动器负载、磁滞制动器负载、伺服电机负载等。考虑到被测电机的特性及成本,选择一款合适的负载至关重要,那么如何才能选择一款合适的电测试的负载呢?首先我们来了解各类型的负载制动器的特性及工作原理:电涡流制动器电涡流制动器是目前国内先进的模拟加载设备,主要用来模拟各种动力装置的输出性能,由感应盘、电枢和励磁部分等组成。当与转子同轴装配的励磁线圈通直流电时,其产生的磁通经电枢体、涡流环、气隙和转子形成闭合回路。
3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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CAN总线各节点质量的不一致引发的系统瘫痪、错误、死机等问题,CAN一致性测试已成为保证CAN网络安全运行的重要手段,本文将对CAN总线一致性测试中的容错性测试进行介绍。CAN一致性测试内容,覆盖了物理层、链路层、应用层等测试需求,容错性能的测试主要是在物理层面,通过地线漂移、地线丢失、电源丢失、CAN线中断、CAN线各短接到地、CAN线各短接到电源、CAN线短路等错误状态模拟,对被测节点和系统工作情况、恢复时间进行整体的考察。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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对样值存储后,数字示波器再重构波形。显然示波器是否能重现真实的信号波形,其中关键的步骤就是采样。根据奈奎斯特抽样定律,要保证信号在恢复时不发生混迭现象和失真,采样率至少为信号频率带宽的2倍以上。可想而知,如果示波器采样速率不高,无法建立起的波形记录时,就会出现波现象,如所示显示为低频信号波形,或者触发显示为不稳定的波形。图2.数字示波器工作原理框图波现象的判断方法在实际测量中可以通过以下4个方法判断示波器测量的波形是否为波。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
仪器外校西安-检测公司再简单一点,就是考虑更好的散热吧。功率管发热功率管的功耗分成两部分,关损耗和导通损耗。要注意,大多数场合特别是LED市电驱动应用,关损害要远大于导通损耗。关损耗与功率管的cgd和cgs以及芯片的驱动能力和工作频率有关,所以要解决功率管的发热可以从以下几个方面解决:不能片面根据导通电阻大小来选择MOS功率管,因为内阻越小,cgs和cgd电容越大。如1N60的 pF左右,5N60的cgs为1200pF左右,差别太大了,选择功率管时,够用就可以了。
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